目录
1. TDR技术提取Dk值的方法
2. 传输线双端口Delta-L技术提取Dk值的方法
3. 传输线单端口Delta-L技术提取Dk值的方法
4. 总结
参考文献
1. TDR技术提取Dk值的方法
测试有效Dk值的一些传统而有效的方法[1][2],是采用TDR阻抗测试仪测试专门设计的传输线的传播延时差,并根据如下公式进行计算:
实现传播延时差的测量有多种方法,一种是设计两段完全相同而仅仅长度不同的PCB走线,通过测量出各自的传播时间相减得到延时差;另一种是设计一段具备单独“阻抗断点”的PCB走线,该断点应当与连接器隔出一段距离以抵消来自于连接器的反射影响,从而实现更高精度的延时差测量。
如下图所示,单板中实现了可用于上述两种测试的PCB走线,其实际测量结果显示,两种方法下测量出的延时差完全一样(0.71ns),从而得到完全相同的Dk值。
但上述解决方案有一些明显的缺点,具体总结如下:
1)应用场景受限:随着VNA的普及应用和功能的日益强大,TDR设备由于其测试功能过于单一而逐步被很多测试实验室所淘汰;
2)测试误差较大:TDR设备需要将一个拥有快速上升沿的激励源注入到待测线中,当注入端口存在阻抗不连续性或者探针接触不良时,会造成不必要的反射导致测试结果偏差,并且,这种影响随着上升沿速度越快而越明显,因此,制约了宽带条件下的应用;
3)数据频点固定:利用上述方法,只能得到一个固定的Dk值,但是传输线理论告诉我们,入射波和反射波是随着频率的变化而产生信号幅度和相位变化的,再加之介质所带来的异常色散影响,因此,其所对应的传播延时也不会是一个定值,因此,有效Dk值一定是随着频率而变化的。
这些缺点,明显制约了该方法的普及,而Intel提出的基于VNA测量的Delta-L技术[3][4],则可以通过测量S参数的随频率变化的相位关系,推导出随频率变化的有效Dk值,从而具有更好的应用前景。 与此同时,基于传统双端口的Delta-L技术,还衍生出了单端口的Delta-L技术,可以在实现降本的同时,在有限条件下实现与双端口的Delta-L技术相同的测量精度[5],本文将对此进行深入的探讨。
2. 传输线双端口Delta-L技术提取Dk值的方法
先了解下双端口Delta-L技术是如何实现动态的有效Dk值测量的,与TDR技术相同,Dk值也还是通过获取传播延时TD而推导出的,不同的是,在新技术下,TD值可以通过随频率变化的S21的相位关系得到,其推导公式如下所示:
式中,ϕ(f)是在该频率f下的插入损耗所对应的归一化相位(以度为单位),-1是一个系数,因为经过线性处理后的相位值均是负数,两者相乘才能确保最后的TDsim是正值,至于为何需要线性处理,接下来的章节会详细说明。
以一段带状线举例来说明上述TDR和双端口Delta-L技术,如下图所示,创建包含两个阻抗“断点”的带状线,以便于准确地提取中间“长距线”的传播延时。
TDR的模拟结果显示,当采用不同码型的激励源时,端口处所产生的阻抗是不一样的,这样就会导致测量误差,此时“断点”的使用,就可以清楚地显示出“长距线”,并且不论码型如何变化,其“断点”的波谷位置始终恒定,此时测量出来的TD就较为一致,本例中的Tround trip=0.82ns,即TD=0.5*Tround trip=0.41ns,带入前式中,可求得有效Dk=4.195,但是与仿真中设定的Dk=4存在差异。
为了使用Delta-L技术,需要再创建一根相对短一些的“长距线”,如下图所示,该技术下不需要使用“断点”,长、短两根带状线差距为10mm,仿真中假设先不考虑导体和介质损耗。
从两根带状线的S21插入损耗(左图)可以发现,两根线之间的延时会随着频率的增长逐步拉开,并在达到15GHz时,完成整体相位极性的翻转(右图),这是因为两根线的长度差为10mm,其传输波长所对应的频点正好为15GHz,相位自然地进入下一个循环周期,这样的转变会导致最后的相位线性化处理结果出现相位突变,解决的办法有两个:1. 降低仿真的频率<15GHz;2. 缩小两根线之间的长度差,本例中,将仿真频率调整到10GHz。
Dk的计算结果表明,双端口Delta-L方法得出的结果与仿真设置完全保持一致,只是在5GHz以内存在轻微的振荡(如下左图),这主要是因为低频时,端口阻抗与线阻抗的不匹配所导致的反射主要由实数部分所引起,而随着频率的增长,虚部的影响开始占主导,但是本例采用了无损传输线的设定,因此,高频处表现得更为稳定。如果将传输线配置为损耗角正切值=0.015,就会发现,有效Dk值会随频率增长而变小(如下右图)。
3. 传输线单端口Delta-L技术提取Dk值的方法
作为双端口Delta-L的衍生方法,单端口Delta-L由于只需要一个测量端口,因此,只能通过获取S11的相位变化,来推算有效Dk值,由于S11是入射波和反射波的叠加,导致其相位变化更频繁,测量带宽受到限制,如图所示,相位极性翻转的频点下降到了7.57GHz。
并且,端口与线阻抗必须完全匹配,才可能获取较为准确的动态Dk值,但是,在有损条件下,线阻抗不是恒定的,这也导致了其测量的准确度的下降。
如下左图所示,为损耗角正切值=0.015、端口阻抗=50ohm时,双端口和单端口方法提取的有效Dk值的对比,可以发现,单端口提取方法存在非常明显的振荡,并且,超过7GHz后,将不能再进行准确的测量计算,如右图所示,当端口阻抗=51ohm时,单端口下的Dk值振荡明显减弱,但是因为线阻抗是动态变化的,因此,不能得到完全平稳的结果。
最后,将铜的电导率配置到仿真模型,并将长、短“长距线”的长度差值缩小到2mm,并根据TDR的结果重新调整了单端口模型的阻抗配置,如下图所示,得到的Dk结果显示,双端口方法的表现非常稳定,而单端口方法无法避免异常色散带来的振荡,从而说明,双端口Delta-L技术在提取PCB有效Dk值方面具有很高的鲁棒性。
关于单端口Delta-L技术的更为详细的分析,可以参考文献[5]。
4. 总结
通过本文的仿真对比分析,提取有效Dk值方面,TDR技术在一些固定的场景下,依然有其参考应用价值,而随着VNA功能的不断增强和高精度测量手段的不断更新,双端口Delta-L技术才是主流评估方法,而单端口Delta-L技术则可以作为其降本增效的方案补充。
参考文献
[1] Quick and Easy Dielectric Constant Measurements. Eric Bogatin, Neeti Sonth, and Priya Vemparala Guruswamy;
[2] Measuring the Bulk Dielectric Constant (Dk) on a Microstrip with a TDR. Benjamin Dannan and Steve Sandler;
[3] Delta-L Methodology for Efficient PCB Trace Loss Characterization. Jimmy Hsu;
[4] Analysis of a TDR Technique to Measure Dielectric Constant. Aditya Rao;
[5] In-Situ Multilayer Printed Circuit Board Characterization Using One-Port Measurements. Eric Bogatin.