在IC设计项目的验证过程中,功能测试(通过使用测试平台)有助于定位设计错误或漏洞。这个验证过程有三个阶段:构建和启动测试平台、验证基本测试用例以及验证边界情况。
在前两个阶段,漏洞很容易被检测到,因此发现漏洞的速率相对较高。然后,随着设计逐渐成熟并进入边界情况测试,漏洞变得越来越难以发现,这一速率相应地减慢,如图4.5所示。最终,当验证几乎完成时,漏洞的发现率几乎为零。
漏洞检测频率、最后一次发现漏洞后的仿真时间长度以及总的仿真周期数是衡量整个验证过程信心水平最常用的方法。
在IC设计项目的验证过程中,功能测试(通过使用测试平台)有助于定位设计错误或漏洞。这个验证过程有三个阶段:构建和启动测试平台、验证基本测试用例以及验证边界情况。
在前两个阶段,漏洞很容易被检测到,因此发现漏洞的速率相对较高。然后,随着设计逐渐成熟并进入边界情况测试,漏洞变得越来越难以发现,这一速率相应地减慢,如图4.5所示。最终,当验证几乎完成时,漏洞的发现率几乎为零。
漏洞检测频率、最后一次发现漏洞后的仿真时间长度以及总的仿真周期数是衡量整个验证过程信心水平最常用的方法。
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