应读者要求,小编将介绍一下全聚焦TFM的基础知识。如有讲解不对的,欢迎批评指正。
全聚焦是超声检测里面的新事物。早在2005前, Caroline Holmes、Paul D. Wilcox等国外学者就开始研究了全聚焦成像,并通过实验得出了TFM相对于常规相控阵检测的优势,详细的比较结果可以参考《Post-processing of the full matrix of ultrasonic transmit–receivearray data for non-destructive evaluation》。在国内,全聚焦的研究时间稍晚一些,小编查找到的资料上显示,北航的周正干老师,早在15年(也许在此之前,也有学者在研究)之前就研究了TFM。那么TFM究竟是个什么玩意呢?它相对于相控阵,有什么特点呢?它的适用性范围呢?在此,小编叙述一下自己对全聚焦的理解,如有错误,欢迎专家批评指正。
全聚焦(total focusing method),顾名思义,就是在成像区域内每一点进行聚焦。相比相控阵聚焦(在小编的早期公众号中介绍过相控阵的几种聚焦模式),它能实现每一点的聚焦。其成像算法是一种基于全矩阵数据采集的虚拟聚焦后处理成像技术,算法精度高且灵活,逐渐成为近年来的研究热点。
因此,首先需要获得全矩阵数据,即获得成像区域(region of interest,ROI)内每一点的A扫信号,而这些A扫信号是由每个阵元单独激发,所有阵元接收回波,形成一行数据;然后步进一个阵元进行发射,所有阵元接收回波,形成第2行数据;直到最后一个阵元发射,所有阵元接收回波为止,形成第N(假定探头中含有N个阵元)行数据,最终得到N×N个A扫的信号矩阵。可以采用下图1和图2表示。而每个阵元发射的声波,形成的声场,与常规超声中单晶探头发出的声场并没有什么区别,只不过是阵元尺寸小,声束扩散角大,声波指向性不明显而已。
图1阵元发射和接收
图2获得的数据矩阵
此时,还只是针对ROI内某一点得到的N²个数据,还需要对ROI区域内其余的点进行同样的数据采集(如下图3中,对P点数据采集之后,还需要对其附近的Q点,以及其它的点处进行数据采集,直到遍历整个ROI区域内的点)。因此,ROI内点数越多,采集的数据矩阵的个数越多,最终得到的影像质量越好,图像越清晰,分辨率越好,采样的数据越接近于真实的信号(类似于从模拟信号到数字信号一样,确保采样的点能代表真实的信号,并且幅值偏差满足要求,因为采样的点数越多,采集到峰值的概率越大,从某种意义上就能得到真实的信号),但是仪器处理的数据量越大;点数越少,采集的数据矩阵个数越少,影像的质量越差,图像越模糊,分辨率越差,仪器处理的数据量小。那如何确定ROI内的点数呢?
图3 ROI区域
在ASME BPVC V article4,mandatory appendix XI中XI-461中amplitude fidelity规定,Amplitude fidelity shall be preserved to 2 dB or less,即采样之后,重构的信号与原始信号幅值之差不超过2dB(在ISO13588标准以及国内的相控阵标准中,在检测完成时对灵敏度进行重新校验,要求的幅值偏差也是不超过2dB,好巧啊!)。即,要求采样的点数不能过少,否则采集的点对应的幅值与真实的幅值偏差将超过2dB,这一点是极其关键的(在Gekko,Mantis,Panther相控阵仪器中都有判定ROI区域内像素点是否满足要求的小工具)。可以采用下图4来理解,假定黄颜色区域代表缺陷区域,如果采样点过少,只能采集如红色圆圈代表的点;当采集点增加时,才能采集到如黑色圆圈代表的点,保证采集到真实的信号峰值。因此图像的像素点越多,意味着在确保幅值的情况下,ROI可以设置越大。或ROI区域尺寸确定之后,得到的信号幅值越接近于真实的幅值。
图 4 ROI区域内的采样点
将ROI划分成若干个小区域,对每个区域进行一次信号采集。左侧为ROI内的采样点,黑色圆圈代表采样点数多,红色圆圈代表采样点数少,黄颜色代表缺陷区域;中间为采样点数多时缺陷处获取的信号,黄颜色为缺陷的原始区域;右侧为采样点数少时缺陷处获取的信号,黄颜色为缺陷的原始区域。可以看出,采样点数不足(或在ROI区域内,像素点不足)时,得到的影像将严重畸变,不能体现真实的缺陷。
获取数据矩阵后,对数据进行处理(通常采用延时叠加)其数学表达式如下式,获得ROI区域内相应点处的信号幅值,然后对幅值进行彩色编码,获得最终的颜色。
下图右侧显示的是ROI区域内P点的A扫数据矩阵。
图5对ROI区域内P点进行数据处理
在后面的章节,我们将叙述TFM成像的优势和应用。
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