参考资料
全面认识MOS管,一篇文章就够了-云社区-华为云基础知识中 MOS 部分迟迟未整理,实际分享的电路中大部分常用电路都用到了MOS管,今天势必要来一篇文章,彻底掌握mos管!https://bbs.huaweicloud.com/blogs/375339
一、初识MOSFET
从初学者的角度来说,我们在学习一个新的知识点的时候,经常会借助已知的知识点,并与之类比。借助已经熟悉的知识点,并对比着学习掌握新的知识点是一种高效、快捷并有效的学习方法。可以拿来和MOSFET(场效应管)进行类比的管子,我们自然会想到三极管,它们有诸多类似之处。
1、分类
为了方便记忆图标,还可以这样去理解代表类型的箭头方向。NPN三极管的箭头是朝外的,而N-MOS的箭头是朝内的;与之对应,PNP三极管的箭头是朝内的,而P-MOS的箭头是朝外的。
图1.1,三极管和MOSFET的图标对比
2、三极管与MOSFET的导通条件对比
图1.2,三极管和MOSFET的导通条件的对比
3、三极管和MOSFET的导通原理对比
三极管的导通深度决定于基极电流(Ibe)的大小,集电极-发射极电流(Ic)是Ibe放大之后的结果(放大倍数Beta,Ic=Beta*Ibe);MOSFET的导通深度决定于栅源极之间的电压大小(Vgs),表现为Vgs越大,DS之间的导通电阻Rds(on)越小。所以,有一个简单的说法:“三极管是电流型器件,MOSFET是电压型器件”。
三极管是电流型器件,MOSFET是电压型器件”的意思是设计三极管电路时,需要关注Ibe的大小,不但是Vbe电压达到阈值就可以了。不同大小的Ibe会使三极管分别处于截止、放大及饱和区;MOSFET是电压型器件,意思是MOSFET的控制只关注Vgs电压,超过导通阈值,MOSFET就由截止进入导通了,接着Vgs电压越大,导通电阻Rds(on)越小,也即导通越充分。
所以,大家在设计电路时,特别是开关电路时,更加青睐于使用MOSFET而不是三极管,因为电压型的器件更方便控制。当然,一般来说MOSFET的成本会高于三极管,所以实际设计电路需要根据实际情况做出妥协。
4、总结
NMOS是栅极高电平(|VGS| > Vt)导通,低电平断开,可用来控制与地之间的导通。
PMOS是栅极低电平(|VGS| > Vt)导通,高电平断开,可用来控制与电源之间的导通。
NMOS因Source端一般接地(低电位),所以要让|VGS| > Vt, 则Gate端一般要接正电压,这样管子才能导通;
PMOS因Source端一般接VDD(高电平),所以要让|VGS|>Vt,则Gate端一般要接负电压(低与VDD的电压),这样管子才能导通。
NMOS的特性,Vgs大于一定的值就会导通,适合用于源极接地时的情况(低端驱动),只要栅极电压达到一定电压(如4V或10V, 其他电压,看手册)就可以了。
PMOS的特性,Vgs小于一定的值就会导通,适合用于源极接VCC时的情况(高端驱动)。但是,虽然PMOS可以很方便地用作高端驱动,但由于导通电阻大,价格贵,替换种类少等原因,在高端驱动中,通常还是使用NMOS。
二、真实的MOSFET
以上对三极管和MOSFET的对比一般是MOSFET入门时必须掌握的知识,类比是为了增强进入学习的信心,但是如果止步于此,甚至满足于此,则是十分可惜的。因为仅凭这几点初识,实际上连MOSFET的门都还没摸到,如果用此三把斧去设计实际电路,很有可能会被打击得“鼻青脸肿”,轻者设计的电路不工作,重则MOSFET“炸管”。
1、MOS管在导通过程是需要驱动电流的,而且所需的驱动电流很大
图1.3是典型的三极管开关电路,经过粗略计算得到Ibe=(3.3-Vbe)/R1-Vbe/R2~=57uA。
所以,三极管电路的基极驱动电流是很微弱的(微安这个数量级)。普通三极管的放大倍数至少也有50左右,所以,理论上Ic=50*0.057=2.85mA,那么R3的压降Vr3=Ic*R3=2.85*10=28.5V>>5V,所以图1.3的三极管已经处于饱和状态。
图1.3,典型的三极管开关电路
如果维持R3=10K不变,使得三极管处于放大状态,则极限的Ic=5/R3=0.5mA,反推至基极Ibe=Ic/Beta=0.5/50=10uA。所以,为了使得三极管工作在放大状态,那么Ibe必须小于10uA,因为设计及调试三极管放大电路使得大多数人望而却步。还好现在使用集成电路的场合比较多,应用三极管也多使其工作于饱和区(作开关使用)。
如果,将图1.3的三极管直接替换成MOSFET,如图1.4,那么情况会如何呢?实际上,可以很负责的告诉你这个电路无法工作。
图1.4,在典型的三极管开关电路(图1.3)中替换三极管为MOSFET
由于MOSFET的导通不需要GS的电流来维持,只需要GS的电压来维持,所以VGS=3.3*R2/(R1+R2)=1.1V。这是和三极管电路的区别之一,三极管在导通之后,仍然需要基极电流Ibe的维系,然后Vbe在导通之后会被钳位(~0.7V);MOSFET在导通之后无需电流的维系,所以VGS的电压可以直接使用电阻的分压比进行计算。
假设,此MOSFET的导通阈值电压Vgs_th实际上,MOSFET在导通瞬间需要很大的驱动电流,大到安培这个数量级(1~2A是正常的)。所以,R1=20K限制了驱动电流,因此这个电路是没法工作的。
改进的方法很简单,使得R1=0~10Ohm,可选择R1=0R或1R,稍微给R1配点阻值(比如1R)是为了减小导通过程中产生的振铃;R1的数值太大会导致开关过程过程甚至无法导通。因为,MOSFET的导通深度(Rdson)会随着VGS电压的增加而加深(Rdson变小),所以一般在安全范围内尽可能使用较高的VGS电压来驱动MOSFET。
图1.5,改进后的MOSFET开关电路
2、不可忽视的MOSFET极间参数
为什么MOSFET在导通过程中会需要安培级别的驱动电流呢?原因是MOSFET的极间有不可忽视的寄生参数(此处只讨论寄生电容)。
图1.6,实际的MOSFET模型
如图1.6, MOSFET的极间电容模型:
► Input capacitance: Ciss = Cgd + Cgs
► Output capacitance: Coss = Cgd + Cds
► Reverse transfer capacitance: Crss = Cgd
在MOSFET导通之前,首先需要打点这些寄生电容(给输入电容Ciss(Cgd+Cgs)充电,交流模型里D和S“对地”),如图1.7。VGS的驱动电压来临瞬间(上升沿),Ciss(Cgs+Cgd)相当于对地短路,所以峰值的Igs=Vgs/(Rg+r),r为驱动电路的内阻,所以GS的瞬态峰值电流达到安培级别不足为奇。
图1.7,MOSFET导通过程中的预充电模型
所以,极间寄生电容是MOSFET的重要参数之一,这也是跳出“三极管思维”的起点。关于MOSFET极间寄生参数的影响,后文还会被不断地提及。
3、MOSFET是电压敏感型的器件(体二极管)
MOSFET对电压十分敏感,一旦过压就会损坏,早期的MOSFET对静电(ESD)十分敏感,而三极管相对“耐操“些,这算是电压型器件的弱点吧。
当然,现在的MOSFET已经没有这么”脆弱“了,首先不用特别担心DS极的问题,因为一般都会集成一颗体二极管(Body Diode),如图1.8。
图1.8,集成了体二极管的MOSFET
集成的体二极管的主要作用是“续流”。比如,在BUCK开关电源中,上管关闭但是下管还未打开的这一小段“死区”时间内进行续流,避免MOSFET受到电压的冲击而损坏。
图1.9,MOSFET的体二极管的续流作用
我们在选择MOSFET时,一般会留足足够的电气参数的裕量,但是由于寄生参数(此处主要指寄生电感)的影响,电压上会出现一些远高于电源电压的电压尖峰。以BOOST电路为例,如图2.0,当MOS管关闭那刻DS之间将承受较高的电压冲击(Vout+振铃)。
图2.0,BOOST电路中MOSFET在关闭时承受较高的Vds冲击
除了续流作用,还有一些MOSFET的体二极管还具有电压钳位作用,类似于“稳压管”避免DS过压而损坏,在一些应用场景比较紧凑的场合不妨考虑选择此类MOSFET,如图2.1的MOSFET的体二极管具备钳位效果,它能将振铃的电压钳位。
图2.1,具有钳位作用的体二极管
真正需要额外防护的是对GS极的防护,避免GS过压。在实际应用时,需要确定是否GS过压的可能性或者风险,然后正确做好防护,一般的方式是在GS之间加一个稳压管。如图2.2,是典型的高位MOSFET开关电路,一般MOSFET的GS间耐压是20V,最大的输入电压是24V,所以MOSFET的GS有过压损坏的风险,因此此处使用了一颗18V稳压管对Vgs进行了钳位防护。
图2.2,High-Side Switch中GS极的防护
4、MOSFET的开关电路的奇怪现象——漏电(MOS开关电路)
如图2.2的MOSFET开关电路,有时候会出现奇怪的现象,即使开关未曾使能(SW保持低电平),理论上MOSFET是处于关闭状态的,但是某些场景下,此时Vout仍然是有输出电压的(漏电)。
导致漏电现象的原因在于,前面已经重点介绍过的MOSFET的极间寄生电容的影响,输入Vin通过MOSFET的极间寄生电容“透传”到了输出Vout上面。所以基本对策是尽量选择极间寄生电容小的MOSFET,如果由于成本等原因的局限,无法替换MOSFET的话,可以尝试在输出端放一颗nF级别的小陶瓷电容,有时可以解决这个漏电的问题;有时需要在输出端放置一个假负载(和输出电容并联一个电阻作为假负载)。
综合以上两种对策,得到图2.3改良之后的高位MOSFET开关,从Vout有输出的瞬态的角度看,C1相当于“直通”,R4充当了“假负载”的作用;在电路达到稳态之后,C1又识趣地“断开”了,R4不会对输出产生影响。专业点说,C1和R4组成了一条“高频”通道。
同时R4还起到了抑制三极管的“温漂”的作用。原理如下:
温度上升 --> 三极管的Vbe压降减小 --> Ir1=(Vsw-Vbe-Vr4)/R1上升,同时Ir2=(Vbe+Vr4)/R2下降 Ir1=Ir2+Ibe
-->Ibe=(Ir1-Ir2)上升 -->Ic上升 --> Vr4=Ic*R4上升--> (Vbe+Vr4)回归稳定,Vr4的上升弥补了Vbe的下降。同理,环境温度下降时也可作同样的分析。
图2.3,改良之后的High-Side Switch
5、BUCK电路中,MOSFET的上下管直通的问题
虽然芯片在设计时已经在上下管交替导通的间隙内插入了“死区时间(dead time)”,但是在BUCK电路中,上下MOS管直通仍然是常见的故障,直通的后果很严重,轻者过热,重者“炸管
图2.4,由于上下管直通导致的MOS“炸管”
引起上下管直通的原因仍然是因为MOS管的极间寄生电容的缘故。上管在打开时,通过下管的Cgd以及Cgs拉升了下管的GATE电压(如图2.4的“鼓包”),如果这个“鼓包”达到了下管开通的门限电压则直通了。
我们知道MOS的导通深度是和GATE的电压大小有关的,GATE电压虽然已到达门限值,但是电压不够高的话,MOS的Rds(on)很高,此刻的直通不会“炸管”,但是会表现为温升。此种情形很容易被忽视,所以对电路进行极限测试很重要,在极限测试时是比较容易发现MOS的异常温升的。
图2.5,引起上下管直通的原理分析
图2.5是针对同步BUCK电路中,上下管直通的原理分析。导致直通的原因是极间寄生电容Cgd以及Cgs,所以在高电压以及快速开关时(high dv/dt)比较容易发生直通现象。如果下管的寄生电容Ciss(Cgd+Cgs)以及Crss(Cgd)较大时,也会增加直通发生的概率。
因此,选用大比值的Cgs/Cgd(或者Qgs/Qgd)可以减小问题的概率,适当减弱驱动(dV/dt)及减小下管GATE的泄流阻抗都会达到改善直通的效果。
有时候,直通现象多少是存在的,表现为温升,刻意地去改善直通会降低开关效率,后果同样也是增加温升。因此,正确的做法是在极限情形下评估,如果各项指标符合预期则无需在意上下管之间可能存在的微弱“直通”。
6、BUCK电路中实际的MOSFET开关波形解析
1、实际的MOSFET波形 – 上管开通
上管快速开启时,SW会通过寄生电容Cgd耦合到下管的Vgs之上,抬升了Vgs电压,此为米勒效应"Miller Effect"。
上管导通时的米勒效应可能会误触发下管,导致上下管直通的现象发生。选择High Cgs/Cgd ratio的MOSFET有利于改善米勒效应。
图2.6,MOSFET开通的波形
2、真实的MOSFET开关波形 – 上管关闭
上管快速关闭时,SW会通过寄生电容Cgd耦合到下管的Vgs之上,拉低Vgs电压至负压(电容的电荷未变。上管打开时,Cgd被充电,现在极性翻转,所以下管Vgs会出现负压,类似Charge-pump的原理),此为米勒效应"Miller Effect"。
上管关闭时的米勒效应所导致的后果是,使得下管的Vgs变为负压,所以不会发生不良后果。
图2.7,MOSFET的关闭过程
三、核心知识点
上文的介绍,首先由三极管切入,目的是为了初学者不惧怕;接着,基于实际案例及实测的波形重点介绍了MOSFET的寄生参数特别是寄生电容对MOSFET的严重影响,有时甚至会导致灾难性性的后果。
MOSFET的实际应用多种多样,可能发生的故障及现象也必定千奇百怪,案例只能帮你有个直观的认识,别人的故事不可原样照搬至自己这里。
所以,文末准备帮大家在理论上梳理并剖析一下MOSFET的开通和关闭的过程。理论的东西总是枯燥乏味的,结合前文的案例来看,相信又没那么的枯燥。
MOSFET的实际模型:
► Input capacitance: Ciss = Cgd + Cgs
► Output capacitance: Coss = Cgd = Cds
► Reverse transfer capacitance: Crss = Cgd
图2.8,MOSFET的模型
图2.8是MOSFET的实际模型,它的内核当然是一颗MOSFET,然后在这颗MOSFET上寄生了电容,其中平时最关注的是Cgd和Cgs,它们的影响,前面已有案例介绍。在评估和对比/替换MOSFET时,别忘了关注这两个参数。
然后MOSFET是有内阻的,Rds(on),实际上也算是寄生参数吧,希望它越小越好,它会导致发热。注意,Rds(on)不是一个恒定值,它与Vgs的大小有关,Vgs越高,Rds(on)越小,所以在驱动MOSFET时需要过驱动,也就是MOSFET已经被导通之后,继续拉升Vgs达到降低Rds(on)的目的。
接着,晶元到管脚是通过金线连接的,它会表现为寄生电感。寄生电感实际上更加令人讨厌,因为它会产生尖峰电压(V=Ldi/dt),尖峰电压可能导致器件损坏,逻辑电路误触发。
MOSFET的驱动:
图2.9,MOSFET的驱动模型
1、预充电阶段
Pre-threshold Charge Period (t0-t1)
Vgs电压小于MOSFET开启的阈值电压Vgs(th),MOSFET仍然处于截止阶段。驱动极对寄生电容Cgd和Cgs进行预充电。
图3.0,MOSFET的预充电阶段
2、Ids电流上升阶段
IDS Current Rising Period (t1-t2)
Vgs超过MOSFET开通的阈值电压Vgs_th,所以MOSFET开始进入导通阶段,随着Vgs的继续上升,电流Id也随之增加。
图3.1,Ids电流上升阶段
3、Vds电压下降阶段
VDS Voltage Falling Period (t2-t3)
Vgs电压到达米勒平台(Miller Platform),Vgs维持不变,Ids维持不变,Vds电压开始下降。
图3.2,Vds电压下降阶段
4、 过驱动阶段
Over-Drive Period (t3-t4)
MOSFET完全导通,Vgs在米勒平台之后继续上升,此过程为过驱动,此行目的是为了降低Rds(on)。
图3.3,过驱动阶段
米勒平台及Qgd是计算开关损耗的重要参数。开关损耗产生的原因是电流和电压的交叠,MOSFET比较特殊之处是:首先Vds维持不变,然后等待Ids持续上升;待Ids到顶了,Vds才开始下降,所以两者重叠的面积很大(Ploss=Vds*Ids)。
图3.4,MOSFET的开关损耗的形成
MOSFET的关闭过程与以上导通过程相反,可作类似的推导,不作赘述。
最后总结一下:MOSFET在导通和关闭过程中的损耗称作开关损耗;完全导通之后,损耗主要是由Rds(on)引起,称作导通损耗;当管子关闭时,通过体二极管续流,同样会产生损耗,如图3.5。
图3.5,MOSFET的损耗的分布
四、参数
Rds(on):DS的导通电阻.当Vgs=10V时,MOS的DS之间的电阻
Id: 最大DS电流.会随温度的升高而降低
Vgs: 最大GS电压.一般为:-20V~+20V
Idm: 最大脉冲DS电流.会随温度的升高而降低,体现一个抗冲击能力,跟脉冲时间也有关系
Pd: 最大耗散功率
Tj: 最大工作结温,通常为150度和175度
Tstg: 最大存储温度
Iar: 雪崩电流
Ear: 重复雪崩击穿能量
Eas: 单次脉冲雪崩击穿能量
BVdss: DS击穿电压
Idss: 饱和DS电流,uA级的电流
Igss: GS驱动电流,nA级的电流.
gfs: 跨导
Qg: G总充电电量
Qgs: GS充电电量
Qgd: GD充电电量
Td(on): 导通延迟时间,从有输入电压上升到10%开始到Vds下降到其幅值90%的时间
Tr: 上升时间,输出电压 VDS 从 90% 下降到其幅值 10% 的时间
Td(off): 关断延迟时间,输入电压下降到 90% 开始到 VDS 上升到其关断电压时 10% 的时间
Tf: 下降时间,输出电压 VDS 从 10% 上升到其幅值 90% 的时间 ( 参考图 4) 。
Ciss: 输入电容,Ciss=Cgd + Cgs.
Coss: 输出电容,Coss=Cds +Cgd.
Crss: 反向传输电容,Crss=Cgc.
摘自:知乎@子慕云