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专栏 《深入理解DDR》
全文 3300
字。
1 概念
1.1 什么是HBM TSV
使用 TSV 堆叠多个DDR DRAM
成为一块HBM
, 成倍提高了存储器位宽, 一条位宽相当于高速公路的一条车道, 车道越多, 在相同的车速下, 传输运输量自然越大。
1.2 TSV
优点
(1) 高密度
减少了横向面积,在小尺寸的消费电子产品领域有优势, 提高系统集成度,在有限的空间集成更多芯片。
(2)提高电信号质量
相对于引线的方式,TSV
的互连距离短,信号质量更好
(3)显著提升了存储器处理速度
(4)功耗也降低了。
1.3 TSV
缺点
(1) 设计和实现复杂
(2)增加了测试成本
2 TSV
技术
为了更快理解TSV
封装,我们先比较下传统的引线键合和TSV
的区别。
2.1 引线键合 vs TSV
图: 引线键合 (来源: SK 海力士)
使用细线将芯片连接在电路板
图: TSV 连接 (来源: SK 海力士)
在芯片上钻几百个孔, 电极直接穿透硅层,减少面积。
2.2 TSV 结构
TSV 示意图
DRAM层与层之间是通过 TSV 即所谓 硅通孔来完成,PHY通过中间介质层和 GPU/CPU/Soc通信。
HBM TSV技术的关键是使用硅穿越孔连接多个芯片层。每个芯片层由一系列DRAM芯片组成,而这些层叠在一起,形成一个整体。硅穿越孔允许在不同芯片层之间进行数据传输,并且通过垂直连接提供了高带宽和低延迟的内存访问。
图. TSV 实物图
中间柱子就是 TSV.
图: TSV 截面图
看可截面图,从外到里分别是:
insulation layer
: 绝缘层
Barrier layer
: 阻挡层
Seed layer
: 种子层,主要Cu, 铜, 这是TSV 主体。
2.3 TSV 分类(时间)
图片来源: Cadence楷登PCB及封装资源中心
根据 TSV
在TVS 在制造哪个环节做,分为三种工艺:
Via First
: 先做 TSV
, 再做有源器件和互连
Via Middle
: 先做有源器件, 再做 TSV
, 最后做互连
Via Last
:先做有源器件和互连, 再做 TSV
2.4 TSV
工艺流程
TSV
制造流程可以分为三大部分 [来源]:
TSV
孔的制造、- 正面制程-大马士革工艺
- 背面制程-露铜刻蚀和
RDL
制程。
TSV
制造流程包括以下步骤:
-
TSV
刻蚀:使用深反应离子刻蚀(DRIE
)技术来制造TSV
孔。
-
- 刻蚀后清洗:采用湿法清洗方法对深孔进行清洗。
-
TSV
线层:使用等离子增强化学气相沉积(PECVD
)技术沉积二氧化硅保护层,以形成介电层。
-
TSV
障碍层/种子层沉积:采用物理气相沉积(PVD
)技术,制造金属扩散障碍层和种子层。
-
- 铜填充:采用铜/钨电镀技术对孔进行填充。
-
- 铜退火:对电镀后的铜进行退火处理,提高铜的电迁移可靠性,并降低电阻率约20%。
正面制程-大马士革工艺
-
- 孔刻蚀、
-
- 刻蚀后清洗、
-
TVS
阻挡层 / 种子层沉积、
-
- 电镀和化学机械抛光。
背面制程-露铜刻蚀和RDL
制程包括以下步骤:
-
- 键合:进行临时键合。
-
- 薄片减厚:对薄片进行减薄处理。
-
- 露铜刻蚀:采用干法刻蚀的方式将
TSV
的铜柱露出(通过BFR
、BVR
工艺)。
- 露铜刻蚀:采用干法刻蚀的方式将
-
- 刻蚀后清洗:使用湿法清洗方法进行清洗。
-
- 钝化:采用
PECVD
技术对TSV
表面进行钝化处理。
- 钝化:采用
-
SiO2
化学机械抛光:去除铜柱上的氮化硅,从而为RDL
准备。
-
RDL
制程:包括去胶、RDL
物理气相沉积、光刻和金属阻挡层物理气相沉积等步骤。`
参考
1 | https://pdf.dfcfw.com/pdf/H3_AP202403041625382250_1.pdf?1709568943000.pdf |
2 | 内存那些事儿----HBM和GPU算力 |
3 | 3D堆叠技术与TSV工艺 |
4 | 高端封装技术:攻克存储器系统性能和容量限制 |
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