测试准备阶段是确保测试过程顺利进行的基础阶段，对于DRAM（动态随机存取存储器）等复杂产品的测试尤为重要。以下是Test-Preparation Phase中关于Fault modeling（故障建模）、Test generation（测试数据生成）、Fault simulation（故障模拟）以及DFT&DFM（测试设计与可制造性分析）的详细介绍：
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Fault Modeling（故障建模）
- 故障模型是软件测试的基础，也是判断测试方法是否成熟的重要标志。故障模型是将测试人员的经验和直觉尽量归纳和固化，使得可以重复使用。
- 在测试准备阶段，故障建模的目标是预测和分析软件或硬件中可能出现的故障类型。例如，在DRAM测试中，故障模型可能会考虑数据访问错误、存储单元失效、总线错误等。
- 常用的故障建模方法有输入型故障模型，它关注用户的各种输入可能导致的故障，例如非法数据输入、默认值输入和特殊字符处理等。
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Test Generation（测试数据生成）
- 测试数据生成是测试准备阶段的关键任务之一。根据测试场景和需求，生成适当的测试数据以确保测试用例的全面性和可靠性。
- 生成的测试数据需要满足业务需求、多样性、真实性和数据质量等要求。这可以通过手动输入、随机生成、数据库读取和数据生成工具等多种方法实现。
- 在DRAM测试中，测试数据可能包括各种读写操作、地址模式、数据模式等，以全面验证DRAM的性能和可靠性。
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Fault Simulation（故障模拟）
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