本文章是基于BES2700 芯片，其他BESxxx 芯片可做参考，如有不当之处，欢迎评论区留言指出。仅供参考学习用！

上位机下发格式：

                        格式一：[A,B]

                        格式二：A:B

                        固定格式：auto_test：cmd1

                                          ibrt_test：cmd2

                                          best_test：cmd3

其中格式一，格式二需要自定义测试接口。固定格式针对测试列表：g_bt_cmd_tables

代码流程：

格式一

自定义串口下发指令：[test,cmd1]

代码流程：

app_init-------->app_trace_rx_open-------->app_trace_rx_process---------->app_trace_rx_mailbox_put--------->app_trace_rx_thread------->app_trace_rx_mailbox_get--------->app_trace_rx_process_impl

注册test 格式指令：

app_init-------->app_trace_rx_open-------->app_trace_rx_register

格式二

自定义串口下发指令：[test:cmd1]

代码流程同格式一一致

固定格式串口下发指令：

auto_test:charge_mic

串口RX程序流程：

app_init-------->app_trace_rx_open-------->app_trace_rx_process---------->app_ibrt_peripheral_perform_test--------->app_bt_cmd_perform_test------->app_bt_cmd_thread------->app_bt_cmd_mailbox_get------->app_bt_cmd_line_handler---------->app_bt_cmd_table_execute

注册待测指令流程：

app_init------>app_bt_cmd_init-------->app_ibrt_ui_v2_add_test_cmd_table ----->app_bt_cmd_add_test_table  ------->g_bt_cmd_tables(全局列表变量)

注意：调试过程中发现明明格式是正确，但是数据无法正确解析，将波特率由152000降低到921600 才正常。考虑波特率过高数据异常导致。