由于插入损耗是影响光纤链路支持给应用能力的主要性能参数，因此根据行业标准，光纤认证测试需要插入损耗。像福禄克网络的CFP光纤测试仪这样的光损耗测试集，通过在一端使用光源，在另一端使用功率计精确测量从另一端发出的光的数量，在链路上提供最精确的插入损耗测量。TIA和ISO标准都使用术语“Tier 1”来描述OLT测试。

一些项目还将指定扩展的“Tier 2”测试，该测试需要光学时域反射计（OTDR）来表征单个拼接和连接器的损耗。OTDR通过将光脉冲传输到光纤并测量光量来实现这一点

 

从每个脉冲反射。OTDR通常也需要用于计算特定连接器的回波损耗，因此对于短距离单模等应用至关重要，其中最大插入损耗基于信道中连接器的数量和回波损耗。需要注意的是，在第2层测试中使用OTDR并不能取代OLT，因为OTDR实现的总插入损耗测量是一种推断计算，不一定描述链路一旦通电后将发生的总损耗。因此，即使规范需要扩展的Tier 2测试，仍然需要通过OLTS进行Tier 1插入损耗测试。在这些情况下，还建议在OLTS插入损耗测试之前完成OTDR特性描述，因为这是最终合规性证明所必需的。

光纤插入损耗测试程序

当今多模光纤系统中的插入损耗测试要求使用环绕通量（EF）发射条件来降低测量不确定度。此方法控制如何将光发射到被测光纤中，以防止可能导致悲观结果的过量发射或可能导致乐观结果的不足发射。福禄克网络仅为所有多模光纤类型提供850 nm和1300 nm的EF兼容测试仪和测试参考跳线。了解更多，关注福禄克经销商—明辰智航！