测试充电芯片保护时间有两种办法，一种是使用真实的电池让充电芯片一直充电（可以通过降充电电流、修改时间参数或是并电池增加容量的方式）。另一种是使用电子负载的CV模式模拟电池（需要增加一个芯片NTC电阻来避免充电芯片发生NTC错误）。

为了最完整的还原这个过程，我采取第一种方式，但是在这里将测试方法做了改进：

不使用电池并联、修改时间参数或降充电电流的方式。而是使用电子负载接在电池上进行放电，充电仍然正常进行。如下图所示：假设充电电流为1A，那么设置电子负载电流为1A，这样刚好抵消了充电芯片对电池充电的电流，电池电压不会抬升。

但实际按这样的方式测试后发现10小时后电子负载自动掉线了，芯片全力给电池充电，很快就充到了满电电压8.4V，导致无法测试出充电芯片保护时间。

那么为什么呢？电子负载为什么失效？

查询了一下电子负载的手册，发现其中存在一个OAH参数。这个参数定义了最大容量。也就是说电子负载达到了这个最大容量后就触发异常关闭了。这个功能在实际中其实也是有作用的，比如我们可以让电池放指定的容量等。